硬件上2812外接一SRAM，通过2812外部接口XINTF总线去访问SRAM，发现XINTF总线时序在运行的过程中会变化。开始以为是由于程序太大，导致改写了
XINTF配置寄存器，但后来写了个简单的测试程序，异常现象依然会出现，且通过仿真器检查XINTF配置寄存器里的值都是所初始化的值，没有变化。
不管是下载到RAM中调试还是下载到2812内部FLASH中跑程序，均会出现上述现象。
具体情况如下：
1、 主程序：
主程序主要功能：对外部SRAM地址0x01写入0x8F80，然后循环读取对比，错误时给个亮灯信号，并打印出读出数据和循环次数，且程序while(1)停止。
2、 XINTF配置函数：选择了ZONE6区域
3、 RAM读写函数
4、 CMD文件
5、 Lib选择rts2800_ml.lib
6、 仿真结果
循环到66次时，出错了。
7、 Xintf时序
绿色为nXZCS6AND7信号，粉色为nXRD信号。示波器截图中可看出，正常状态时，XINTF外部接口读时序nXRD信号有效时间为1.2us，
在运行到第66次时，却变成120ns左右，从而导致我读取数据失败。此时通过仿真器检查XINTF配置寄存器值都是我初始化值，但是nXRD有效时间
却变短了，为什么会造成这原因？！
希望TI技术支持能看看我这是TMS320F2812固有的问题，还是我软件初始化或配置没设置好的原因，谢谢。